产品展示
您现在的位置:首页 > 产品中心 > 镀层测厚仪 > 镀层膜厚测量仪 > X荧光镀层测厚仪供应
X荧光镀层测厚仪供应

X荧光镀层测厚仪供应

型    号:
报    价:
分享到:

X荧光镀层测厚仪供应-XRF2000镀层测厚仪$n检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...$n可测单层,双层,多层,合金镀层,$n测量范围:0.04-35um$n测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度$n全自动台面,操作非常方便简单

  • 产品描述

X荧光镀层测厚仪供应Micro Pioneer XRF-2000系列荧光X射线金属镀层测厚仪可用于测量一般工件、PCB及五金、半导体等产品的各种金属镀层的厚度。只需要10-30秒即可获得测量结果, zui小测量面积为直径为0.1mm的圆面积; 测量范围:0-35um;

X荧光镀层测厚仪供应其特点为:激光自动对焦、全自动XYZ样片台、简易自动对位、具温度补偿功能、十字线自动调整、可自行设计报告格式、多镀层及电镀液分析、具有竞争力的价格、五个可选准直器(0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm)。是非破坏性测厚仪器的首选机型。测量精度:误差控制在±5%.

 

荧光X-射线微小面积镀层厚度测量仪的特征

  • 可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度
  • 可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。
  • 薄膜FP法软件是标准配置,可同时对多层镀层及合金镀层厚度和成分进行测量。此外,也适用于无铅焊锡的应用。
  • 备有250种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。

 

 

荧光X-射线仪器的测量原理

物质经X射线或粒子射线照射后,由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态,此物质必需将多余的能量释放出来,而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度,来进行定性和定量分析。

本页主要介绍了X荧光镀层测厚仪供应的相关资料,欢迎来电咨询更多其他信息!
深圳市鑫捷伟科技有限公司 版权所有 地址:深圳市南山区西丽文光丽景大厦1202 邮 编:518000 电 话:0755-86641002 传 真:0755-86641001 Email:SenJex@163.com
ICP备:粤ICP备10040624号-2 GoogleSitemap 技术支持:化工仪器网 管理登陆 返回首页
在线客服
用心服务 成就你我