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镀层测厚仪其原理可以分为以下两种点击次数:77 发布时间:2019-04-22

  镀层测厚仪使用高效而实用的正比计数盒和电制冷探测器,以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求,且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作更人性化、更方便。被广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等镀层检测领域。
 
  镀层测厚仪又称为覆层测厚仪其原理如下:
 
  磁性测厚原理:当测头与覆层接触时,霍尔发现这个电位差UH与电流强度IH成正比,测头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,与磁感应强度B成正比,当测头与覆盖层接触时,金属基体上产生电涡流,与薄片的厚度d成反比。通过测量其变化可计算覆盖层的厚度。
 
  涡流测厚原理:利用高频交电流在线圈中产生一个电磁场,磁性测厚法是用来无损的测磁性金属上的非磁性覆盖层的厚度,现在有一款新型的涂层测厚仪,即涂层测厚仪,它采用的是蕞新的磁感技术。也就是我们知道的霍尔效应,霍尔于1879年发现的。涡流法可无损的测量费磁性金属基体上的非导电层的厚度。
 

  镀层测厚仪的性能特点:
 
  1、良好的射线屏蔽作用。
 
  2、测试口高度敏感性传感器保护。
 
  3、鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点。
 
  4、高分辨率探头使分析结果更加精准。
 
  5、满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求。
 
  6、φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求。
 
  7、高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm。
 
  8、采用高度定位激光,可自动定位测试高度。
 
  9、定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐。
 
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