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镀层测厚仪点击次数:340 发布时间:2017-04-06

Micro Pioneer XRF-2000系列荧光X射线金属镀层测厚仪可用于测量一般工件、PCB及五金、半导体等产品的各种金属镀层的厚度。只需要10-30秒即可获得测量结果, zui小测量面积为直径为0.1mm的圆面积; 测量范围:0-35um;

其特点为:激光自动对焦、全自动XYZ样片台、简易自动对位、具温度补偿功能、十字线自动调整、可自行设计报告格式、多镀层及电镀液分析、具有竞争力的价格、五个可选准直器(0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm)。是非破坏性测厚仪器的机型。测量精度:误差控制在±5%.

 

应用实例图示

(1)单镀层:Ag/xx

 

(2)合金镀层:Sn-Pb/xx

 

(3)双镀层:Au/Ni/xx

Ag

 

Sn-Pb

 

Au

底材

 

底材

 

Ni

 

 

 

 

底材

 

 

 

 

 

(4)合金镀层:Sn-Bi/xx

 

(5)三镀层:Au/Pd/Ni/xx

 

(6)化学镀层:Ni-P/xx

Sn-Bi

 

Au

 

Ni-P

底材

 

Pd

 

底材

 

 

Ni

 

 

 

 

底材

 

 

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